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WNS-3030DS Microscopio di misura metallografica standard
WNS-3030DS tutta la serie di microscopi di misura metallografica in marmo, base, piattaforma mobile XY sono progettati con la struttura di granito, co
Dettagli del prodotto

Introduzione al prodotto:

Microscopio di misura metallografico completo della serie della struttura in marmo WNS-3030DS, con progettazione della struttura in granito per la base e la piattaforma mobile XY, dotato del sistema ottico del microscopio WeiNiSi, dispositivo di illuminazione e macchina fotografica digitale ad alta definizione. Attraverso la selezione opzionale, può avere varie funzioni di osservazione quali campi luminosi e scuri, interferenza differenziale, polarizzazione, ecc; Ampiamente applicabile ai semiconduttori PCB、LCD、 Campi multipli tra cui catena dell'industria del telefono cellulare, comunicazione optoelettronica, elettronica di base, hardware della muffa, attrezzature mediche, industria automobilistica, industria della metrologia, ecc.

Questo prodotto combina l'elevata capacità di osservazione dell'ingrandimento di un microscopio metallografico con le funzioni di misura delle dimensioni X, Y e Z di uno strumento di misura dell'immagine, rendendolo uno strumento di misura multifunzionale con misurazione lineare e osservazione ad alta precisione.

Caratteristiche del prodotto:

L'asse Z è focalizzato con precisione attraverso un impulso manuale elettrico (con uno spostamento minimo che può essere regolato fino a 0,0005mm)

● Obiettivo a campo luminoso standard e percorso ottico a campo luminoso (campo luminoso e scuro opzionale)

L'asse Z può essere dotato di un modulo di messa a fuoco ausiliario opzionale per ottenere la funzione di misurazione dell'altezza

● Ruota nasale manuale o elettrica opzionale

● Può supportare l'aggancio di obiettivi a lunga distanza di lavoro

Adottando un eccellente sistema ottico infinito per migliorare il contrasto e la chiarezza di imaging, gli utenti possono ottenere immagini vivide e chiare ad alto contrasto, che possono raggiungere vari metodi di imaging come campi luminosi e scuri, polarizzazione, interferenza differenziale, ecc;

Grazie alle prestazioni ottiche superiori e all'altissima precisione di misura, insieme all'equilibrio del funzionamento del soggetto, gli oggetti precedentemente invisibili o quasi invisibili possono ora non solo essere osservati ma anche misurati;

Adatto per la misurazione 3D di parti ad alte prestazioni e componenti elettronici;

Può misurare facilmente pezzi e pezzi fragili con dettagli estremamente piccoli!

Il dispositivo di sgancio rapido facilita il rapido movimento del piano di lavoro quando si misurano pezzi di grandi dimensioni o quantità multiple di pezzi.



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